Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems)

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  • 発売日: 2016年8月16日 火曜日 - 発売中
  • 新刊発見日: 2017年02月07日
  • （2026年07月12日 13時00分 JST時点 - 詳細はこちら）
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