Electro-Thermal Simulation Studies of SiC Junction Diodes Containing Screw Dislocations Under High Reverse-Bias Operation
- 発売日: 2018年9月15日 土曜日 - 発売中
- 新刊発見日: 2018年09月22日
- 在庫状況： 在庫あり
- （2024年04月19日 21時34分 JST時点 - 詳細はこちら）
- National Aeronautics and Space Administration NASA
- Independently published
- Amazon.co.jp 価格： ￥3,008.
- （2024年04月19日 21時34分 JST時点 - 詳細はこちら）
- ASIN： 1723722472
- EAN： 9781723722479
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